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Asymptotic analysis of multi-phase-field models: A thorough consideration of binary interfaces

Nani, E. S. 1; Nestler, B. 1
1 Institut für Angewandte Materialien – Computational Materials Science (IAM-CMS), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1103/PhysRevE.105.014802
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Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien – Computational Materials Science (IAM-CMS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2022
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 2470-0045, 1063-651X, 1095-3787, 1538-4519, 1539-3755, 1550-2376, 2470-0053, 2470-0061
KITopen-ID: 1000143290
Erschienen in Physical Review E
Verlag American Physical Society (APS)
Band 105
Heft 1
Seiten Art.-Nr.: 014802
Nachgewiesen in Scopus
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