KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Determination of indium content of GaAs/(In,Ga)As/(GaAs) core-shell(-shell) nanowires by x-ray diffraction and nano x-ray fluorescence

Al Hassan, Ali; Lewis, R. B.; Küpers, H.; Lin, W.-H.; Bahrami, D.; Krause, T.; Salomon, D.; Tahraoui, A.; Hanke, M.; Geelhaar, L.; Pietsch, U.


Download
Originalveröffentlichung
DOI: 10.1103/PhysRevMaterials.2.014604
Scopus
Zitationen: 12
Dimensions
Zitationen: 13
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Photonenforschung und Synchrotronstrahlung (IPS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2018
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 2475-9953
KITopen-ID: 1000143307
Erschienen in Physical review materials
Verlag American Physical Society (APS)
Band 2
Seiten Art.-Nr.: 014604
Vorab online veröffentlicht am 19.01.2018
Nachgewiesen in Web of Science
Dimensions
Scopus
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page