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Determination of indium content of GaAs/(In,Ga)As/(GaAs) core-shell(-shell) nanowires by x-ray diffraction and nano x-ray fluorescence

Al Hassan, Ali; Lewis, R. B.; Küpers, H.; Lin, W.-H.; Bahrami, D.; Krause, T.; Salomon, D.; Tahraoui, A.; Hanke, M.; Geelhaar, L.; Pietsch, U.


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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1103/PhysRevMaterials.2.014604
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Zitationen: 13
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Photonenforschung und Synchrotronstrahlung (IPS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2018
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 2475-9953
KITopen-ID: 1000143307
Erschienen in Physical review materials
Verlag American Physical Society (APS)
Band 2
Seiten Art.-Nr.: 014604
Vorab online veröffentlicht am 19.01.2018
Nachgewiesen in Dimensions
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