Complete structural and strain analysis of single GaAs/(In,Ga)As/GaAs core–shell–shell nanowires by means of in-plane and out-of-plane X-ray nanodiffraction
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Photonenforschung und Synchrotronstrahlung (IPS) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsmonat/-jahr | 10.2018 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 1600-5767 KITopen-ID: 1000143308 |
| Erschienen in | Journal of applied crystallography |
| Verlag | International Union of Crystallography |
| Band | 51 |
| Heft | 5 |
| Seiten | 1387–1395 |
| Vorab online veröffentlicht am | 13.09.2018 |
| Nachgewiesen in | Web of Science Scopus Dimensions |