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Electronic influence of ultrathin aluminum oxide on the transistor device performance of binary indium/tin oxide films

Büschges, M. Isabelle; Trouillet, Vanessa 1; Schneider, Jörg J.
1 Institut für Angewandte Materialien – Energiespeichersysteme (IAM-ESS), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Verlagsausgabe §
DOI: 10.5445/IR/1000143585
Veröffentlicht am 10.03.2022
Originalveröffentlichung
DOI: 10.1039/D2TC00285J
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Zitationen: 4
Web of Science
Zitationen: 4
Dimensions
Zitationen: 5
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien – Energiespeichersysteme (IAM-ESS)
Karlsruhe Nano Micro Facility (KNMF)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2022
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 2050-7526, 2050-7534
KITopen-ID: 1000143585
HGF-Programm 43.35.01 (POF IV, LK 01) Platform for Correlative, In Situ & Operando Charakterizat.
Erschienen in Journal of Materials Chemistry C
Verlag Royal Society of Chemistry (RSC)
Band 10
Heft 14
Seiten 5447-5457
Vorab online veröffentlicht am 04.03.2022
Nachgewiesen in Dimensions
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