Single-exposure X-ray phase imaging microscopy with a grating interferometer
Wolf, Andreas ; Akstaller, Bernhard; Cipiccia, Silvia; Flenner, Silja; Hagemann, Johannes; Ludwig, Veronika; Meyer, Pascal
1; Schropp, Andreas; Schuster, Max; Seifert, Maria; Weule, Mareike; Michel, Thilo; Anton, Gisela; Funk, Stefan
1 Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Schropp, Andreas; Schuster, Max; Seifert, Maria; Weule, Mareike; Michel, Thilo; Anton, Gisela; Funk, Stefan1 Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsdatum | 01.05.2022 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 1600-5775 KITopen-ID: 1000143798 |
| HGF-Programm | 43.35.01 (POF IV, LK 01) Platform for Correlative, In Situ & Operando Charakterizat. |
| Erschienen in | Journal of Synchrotron Radiation |
| Verlag | International Union of Crystallography |
| Band | 29 |
| Heft | 3 |
| Vorab online veröffentlicht am | 15.03.2022 |
| Schlagwörter | Proposal: 2019-022-026974, Technologien: DLW, EBL und XRL |
| Nachgewiesen in | Dimensions OpenAlex Web of Science Scopus |