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Single-exposure X-ray phase imaging microscopy with a grating interferometer

Wolf, Andreas ; Akstaller, Bernhard; Cipiccia, Silvia; Flenner, Silja; Hagemann, Johannes; Ludwig, Veronika; Meyer, Pascal 1; Schropp, Andreas; Schuster, Max; Seifert, Maria; Weule, Mareike; Michel, Thilo; Anton, Gisela; Funk, Stefan
1 Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Verlagsausgabe §
DOI: 10.5445/IR/1000143798
Veröffentlicht am 16.03.2022
Originalveröffentlichung
DOI: 10.1107/S160057752200193X
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Zitationen: 2
Web of Science
Zitationen: 1
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Zitationen: 2
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Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsdatum 01.05.2022
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1600-5775
KITopen-ID: 1000143798
HGF-Programm 43.35.01 (POF IV, LK 01) Platform for Correlative, In Situ & Operando Charakterizat.
Erschienen in Journal of Synchrotron Radiation
Verlag International Union of Crystallography
Band 29
Heft 3
Vorab online veröffentlicht am 15.03.2022
Schlagwörter Proposal: 2019-022-026974, Technologien: DLW, EBL und XRL
Nachgewiesen in Web of Science
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