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Structure formation in organic thin films observed in real time by energy dispersive near-edge x-ray absorption fine-structure spectroscopy

Scholz, M. 1; Sauer, C. 1; Wiessner, M. 1; Nguyen, N. 1; Schöll, A. 1; Reinert, F. 1
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Verlagsausgabe §
DOI: 10.5445/IR/1000144301
Veröffentlicht am 30.03.2022
Originalveröffentlichung
DOI: 10.1088/1367-2630/15/8/083052
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Zitationen: 3
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Zitationen: 2
Dimensions
Zitationen: 3
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institute for Advanced Membrane Technology (IAMT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2013
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1367-2630
KITopen-ID: 1000144301
Erschienen in New Journal of Physics
Verlag Institute of Physics Publishing Ltd (IOP Publishing Ltd)
Band 15
Heft 8
Seiten Artk.Nr.: 083052
Vorab online veröffentlicht am 27.08.2013
Nachgewiesen in Dimensions
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