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On the Channel Percolation in Ferroelectric FET Towards Proper Analog States Engineering

Ni, Kai; Thomann, Simon; Prakash, Om 1; Zhao, Zijian; Deng, Shan; Amrouch, Hussam
1 Institut für Technische Informatik (ITEC), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/IEDM19574.2021.9720631
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Zitationen: 33
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Zitationen: 37
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsdatum 11.12.2021
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-66542-572-8
ISSN: 0163-1918
KITopen-ID: 1000144553
Erschienen in 2021 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM): 11–16 December 2021, San Francisco, CA, USA
Veranstaltung 67th International Electron Devices Meeting (IEDM 2021), San Francisco, CA, USA, 11.12.2021 – 15.12.2021
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Nachgewiesen in Dimensions
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