Combining electron spin resonance spectroscopy with scanning tunneling microscopy at high magnetic fields
Drost, Robert; Uhl, Maximilian; Kot, Piotr; Siebrecht, Janis; Schmid, Alexander 1; Merkt, Jonas 1; Wünsch, Stefan
1; Siegel, Michael 1; Kieler, Oliver; Kleiner, Reinhold; Ast, Christian R.
1 Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Siegel, Michael 1; Kieler, Oliver; Kleiner, Reinhold; Ast, Christian R. 1 Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2022 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0034-6748, 1089-7623 KITopen-ID: 1000144676 |
| Erschienen in | Review of Scientific Instruments |
| Verlag | American Institute of Physics (AIP) |
| Band | 93 |
| Heft | 4 |
| Seiten | Article no: 043705 |
| Vorab online veröffentlicht am | 11.04.2022 |
| Nachgewiesen in | Dimensions Web of Science Scopus |