Influence of surface roughness on measurement uncertainty in Computed Tomography

Schild, L. ; Kraemer, Alexandra; Reiling, D.; Wu, H.; Lanza, Gisela

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seit 06.07.2022

Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Produktionstechnik (WBK)
Publikationstyp	Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr	2018
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 1000144872
Erschienen in	8th Conference on Industrial Computed Tomography (iCT) 2018. Ed.:
Veranstaltung	8th Conference on Industrial Computed Tomography (iCT 2018), Wels, Österreich, 06.02.2018 – 09.02.2018
Seiten	1–8
Externe Relationen	Abstract/Volltext
Relationen in KITopen	Ist enthalten in 8th Conference on Industrial Computed Tomography (iCT) 2018, 6-9 Feb, Wels, Austria (iCT 2018). Research Group "Computed Tomography" at the University of Applied Sciences Upper Austria (2018) Proceedingsband (1000146170)