KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Influence of surface roughness on measurement uncertainty in Computed Tomography

Schild, L. ; Kraemer, Alexandra; Reiling, D.; Wu, H.; Lanza, Gisela


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Produktionstechnik (WBK)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2018
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 1000144872
Erschienen in 8th Conference on Industrial Computed Tomography (iCT) 2018. Ed.:
Veranstaltung 8th Conference on Industrial Computed Tomography (iCT 2018), Wels, Österreich, 06.02.2018 – 09.02.2018
Seiten 1–8
Externe Relationen Abstract/Volltext
Relationen in KITopen
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page