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Influence of different mounting strategies on the random measurement error in industrial computed tomography

Schild, Leonard; Jung, Max; Häfner, Benjamin; Lanza, Gisela


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Produktionstechnik (WBK)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2020
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 1000144881
Erschienen in 10th Conference on Industrial Computed Tomography (iCT) 2020, 4-7 Feb, Wels, Austria
Veranstaltung 10th Conference on Industrial Computed Tomography (iCT 2020), Wels, Österreich, 04.02.2020 – 07.02.2020
Seiten 1–8
Externe Relationen Siehe auch
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