Application of statistical resampling techniques on CMM point clouds
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Produktionstechnik (WBK) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2008 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-0-9553082-5-3 KITopen-ID: 1000144963 |
| Erschienen in | 10th Anniversary International Conference of the European Society for Precision Engineering and Nanotechnology (EUSPEN) 2008. Hrsg.: Hendrik Brussel |
| Veranstaltung | 10th Anniversary International Conference of the European Society for Precision Engineering and Nanotechnology (EUSPEN 2008), Zürich, Schweiz, 18.05.2008 – 22.05.2008 |
| Verlag | European Society for Precision Engineering and Nanotechnology (euspen) |
| Seiten | 280–284 |
| Nachgewiesen in | Scopus |