Quantification of Risks Arising from Low Data Availability in Extended Warranty and Preventive Maintenance
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Produktionstechnik (WBK) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2010 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 1000145400 |
| Erschienen in | Symposium proceedings - International Applied Reliability Symposium Euorpe 2010 |
| Seiten | 2–6 |