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Quality Assurance in the Production of Semi-Finished SMC and BMC

Lanza, Gisela; Stockey, Stefan; Ertel, A.; Kim, Seung-Woo [Hrsg.]


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Produktionstechnik (WBK)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2011
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 1000145409
Erschienen in The 10th International Symposium on Measurement Technology and Intelligent Instruments (ISMTII 2011) : [held at KAIST, Daejeon, South Korea, on 29 June - 2 July 2011] / [Ed.. Seung-Woo Kim]
Veranstaltung 10th International Symposium on Measurement Technology and Intelligent Instruments (ISMTII 2011), Daejeon, Südkorea, 29.06.2019 – 02.07.2019
Verlag Institute of Physics Publishing Ltd (IOP Publishing Ltd)
Seiten 211
Externe Relationen Abstract/Volltext
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