Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Informatik – Lehrstuhl IES Beyerer: Interaktive Echtzeitsysteme (Lehrstuhl IES Beyerer: Interaktive Echtzeitsysteme) |
Publikationstyp | Hochschulschrift |
Publikationsdatum | 09.06.2022 |
Sprache | Englisch |
Identifikator | ISBN: 978-3-7315-1188-5 ISSN: 1866-5934 KITopen-ID: 1000145608 |
Verlag | KIT Scientific Publishing |
Umfang | XV, 148 S. |
Serie | Schriftenreihe Automatische Sichtprüfung und Bildverarbeitung ; 19 |
Art der Arbeit | Dissertation |
Fakultät | Fakultät für Informatik (INFORMATIK) |
Institut | Fakultät für Informatik – Lehrstuhl IES Beyerer: Interaktive Echtzeitsysteme (Lehrstuhl IES Beyerer: Interaktive Echtzeitsysteme) |
Prüfungsdatum | 26.11.2021 |
Schlagwörter | diffraktives optisches Element, Konfokalmikroskopie, Fluoreszenzmikroskopie, Metrologie, 3D Messtechnik, diffractive optical element, confocal microscopy, fluorescence microscopy, metrology, 3D measurement technology |
Referent/Betreuer | Beyerer, Jürgen |