KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Pattern Recognition in Multivariate Time Series: Towards an Automated Event Detection Method for Smart Manufacturing Systems

Kapp, Vadim 1; May, Marvin Carl ORCID iD icon 1; Lanza, Gisela 1; Wuest, Thorsten
1 Institut für Produktionstechnik (WBK), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Verlagsausgabe §
DOI: 10.5445/IR/1000146091
Veröffentlicht am 25.05.2022
Originalveröffentlichung
DOI: 10.3390/jmmp4030088
Scopus
Zitationen: 26
Dimensions
Zitationen: 27
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Produktionstechnik (WBK)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2020
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 2504-4494
KITopen-ID: 1000146091
Erschienen in Journal of Manufacturing and Materials Processing
Verlag MDPI
Band 4
Heft 3
Seiten 88
Vorab online veröffentlicht am 05.09.2020
Nachgewiesen in Dimensions
Scopus
Globale Ziele für nachhaltige Entwicklung Ziel 9 – Industrie, Innovation und Infrastruktur
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page