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Optimierung von Aufnahmeparametern mittels projektionsbasierter Qualitätskenngrößen in der industriellen Computertomographie

Kraemer, Alexandra; Boehmler, P.; Lanza, Gisela


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Produktionstechnik (WBK)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2016
Sprache Deutsch
Identifikator ISBN: 978-3-9816876-0-6
KITopen-ID: 1000146230
Erschienen in Sensoren und Messsysteme 2016 : 18. GMA/ITG-Fachtagung, Nürnberg Convention Center, 10. und 11. Mai 2016 : Tagungsband
Veranstaltung 18. GMA/ITG-Fachtagung Sensoren und Messsysteme (2016), Nürnberg, Deutschland, 10.05.2016 – 11.05.2016
Verlag AMA Service
Seiten 383–390
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