Aspects of estimating CMM measurement uncertainty for micro parts with respect to similarity requirements and influences of manufacturing processes
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Produktionstechnik (WBK) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsmonat/-jahr | 05.2007 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-0-9553082-2-2 KITopen-ID: 1000147330 |
| Erschienen in | Proceedings of the 7th international conference / European Society for Precision Engineering and Nanotechnology: May 20th - May 24th 2007, Bremen, Germany. Ed.: E. Thornett |
| Veranstaltung | 7th International Conference of the European Society for Precision Engineering and Nanotechnology (EUSPEN 2007), Bremen, Deutschland, 20.05.2007 – 24.05.2007 |
| Verlag | European Society for Precision Engineering and Nanotechnology (euspen) |
| Seiten | 349-352 |
| Nachgewiesen in | Scopus |