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Real-Time Adjustable Voltage-Source Gate Driver With Resistance Emulation for Automated SiC MOSFET Characterization

Wurst, Helge B. 1; Blank, Thomas ORCID iD icon 1; An, Bao Ngoc
1 Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2022
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-3-8007-5822-7
KITopen-ID: 1000147746
HGF-Programm 38.02.03 (POF IV, LK 01) Batteries in Application
Erschienen in PCIM Europe 2022: International Exhibition and Conference for Power Electronics, Intelligent Motion, Renewable Energy and Energy Management Proceedings, 10 – 12 May 2022, Nuremberg
Veranstaltung International Exhibition and Conference for Power Electronics, Intelligent Motion, Renewable Energy and Energy Management (PCIM Europe 2022), Nürnberg, Deutschland, 10.05.2022 – 12.05.2022
Verlag VDE Verlag
Seiten 353-357
Nachgewiesen in Scopus
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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