Cleaved-Gate Ferroelectric FET for Reliable Multi-Level Cell Storage
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsmonat/-jahr | 03.2022 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-66547-950-9 ISSN: 1541-7026 KITopen-ID: 1000147755 |
| Erschienen in | 2022 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS): Proceedings ; Dallas, Texas, 27 March – 31 March 2022 |
| Veranstaltung | IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS 2022), Dallas, TX, USA, 27.03.2022 – 31.03.2022 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | Art.-Nr.: P5 |
| Nachgewiesen in | Dimensions Scopus |