MBIST-based Trim-Search Test Time Reduction for STT-MRAM
Münch, Christopher
1; Yun, Jongsin; Keim, Martin; Tahoori, Mehdi B. 1
1 Institut für Technische Informatik (ITEC), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Yun, Jongsin; Keim, Martin; Tahoori, Mehdi B. 11 Institut für Technische Informatik (ITEC), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsdatum | 25.04.2022 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-66541-060-1 KITopen-ID: 1000148430 |
| Erschienen in | Proceedings 2022 IEEE 40th VLSI Test Symposium (VTS): VTS 2022 ; April 25th–27th 2022, Virtual Interactive Live Event |
| Veranstaltung | 40th VLSI Test Symposium (VTS 2022), Online, 25.04.2022 – 27.04.2022 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Nachgewiesen in | Dimensions Scopus |