Voltage Tuning for Reliable Computation in Emerging Resistive Memories
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsdatum | 25.04.2022 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-66541-060-1 KITopen-ID: 1000148433 |
| Erschienen in | Proceedings 2022 IEEE 40th VLSI Test Symposium (VTS): VTS 2022 ; April 25th–27th 2022, Virtual Interactive Live Event |
| Veranstaltung | 40th VLSI Test Symposium (VTS 2022), Online, 25.04.2022 – 27.04.2022 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Nachgewiesen in | Dimensions Scopus |