Scanning high-sensitive x-ray polarization microscopy
Marx-Glowna, B. ; Grabiger, B.; Lötzsch, R.; Uschmann, I.; Schmitt, A. T.; Schulze, K. S.; Last, A.
1; Roth, T.; Antipov, S.; Schlenvoigt, H-P.; Sergueev, I.; Leupold, O.; Röhlsberger, R.; Paulus, G. G.
1 Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Roth, T.; Antipov, S.; Schlenvoigt, H-P.; Sergueev, I.; Leupold, O.; Röhlsberger, R.; Paulus, G. G.1 Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsdatum | 01.05.2022 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 1367-2630 KITopen-ID: 1000148857 |
| HGF-Programm | 43.35.01 (POF IV, LK 01) Platform for Correlative, In Situ & Operando Charakterizat. |
| Erschienen in | New Journal of Physics |
| Verlag | Institute of Physics Publishing Ltd (IOP Publishing Ltd) |
| Band | 24 |
| Heft | 5 |
| Seiten | 053051 |
| Schlagwörter | Proposal: 2020-023-028309, Technologie: XRL |
| Nachgewiesen in | OpenAlex Web of Science Scopus Dimensions |