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Scanning high-sensitive x-ray polarization microscopy

Marx-Glowna, B. ; Grabiger, B.; Lötzsch, R.; Uschmann, I.; Schmitt, A. T.; Schulze, K. S.; Last, A. 1; Roth, T.; Antipov, S.; Schlenvoigt, H-P.; Sergueev, I.; Leupold, O.; Röhlsberger, R.; Paulus, G. G.
1 Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Verlagsausgabe §
DOI: 10.5445/IR/1000148857
Veröffentlicht am 21.07.2022
Originalveröffentlichung
DOI: 10.1088/1367-2630/ac6e80
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Zitationen: 1
Web of Science
Zitationen: 1
Dimensions
Zitationen: 2
BibTeX (UTF-8) BibTeX (ASCII) EndNote/Refer (.enw) RIS CSL-JSON ISI
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsdatum 01.05.2022
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1367-2630
KITopen-ID: 1000148857
HGF-Programm 43.35.01 (POF IV, LK 01) Platform for Correlative, In Situ & Operando Charakterizat.
Erschienen in New Journal of Physics
Verlag Institute of Physics Publishing Ltd (IOP Publishing Ltd)
Band 24
Heft 5
Seiten 053051
Schlagwörter Proposal: 2020-023-028309, Technologie: XRL
Nachgewiesen in Dimensions
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