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A Data-driven Approach for Fault Detection in the Alternator Unit of Automotive Systems

Vijayan, Arunkumar 1; Tahoori, Mehdi B. 1; Kintzli, Ewald; Lohmann, Timm; Hans Handl, Juergen
1 Institut für Technische Informatik (ITEC), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsdatum 23.05.2022
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-66546-706-3
ISSN: 1530-1877
KITopen-ID: 1000149147
Erschienen in 2022 IEEE European Test Symposium (ETS): 23–27 May 2022, Barcelona, Spain
Veranstaltung IEEE European Test Symposium (ETS 2022), Barcelona, Spanien, 23.05.2022 – 27.05.2022
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Nachgewiesen in Scopus
Dimensions
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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