PVT Analysis for RRAM and STT-MRAM-based Logic Computation-in-Memory
Fieback, Moritz; Münch, Christopher
1; Gebregiorgis, Anteneh; Medeiros, Guilherme Cardoso; Taouil, Mottaqiallah; Hamdioui, Said; Tahoori, Mehdi 1
1 Institut für Technische Informatik (ITEC), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Gebregiorgis, Anteneh; Medeiros, Guilherme Cardoso; Taouil, Mottaqiallah; Hamdioui, Said; Tahoori, Mehdi 11 Institut für Technische Informatik (ITEC), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsdatum | 23.05.2022 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-66546-706-3 ISSN: 1530-1877 KITopen-ID: 1000149148 |
| Erschienen in | 2022 IEEE European Test Symposium (ETS): 23–27 May 2022, Barcelona, Spain |
| Veranstaltung | IEEE European Test Symposium (ETS 2022), Barcelona, Spanien, 23.05.2022 – 27.05.2022 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Serie | 2022-May |
| Nachgewiesen in | Dimensions Scopus |