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Process and Runtime Variation Robustness for Spintronic-Based Neuromorphic Fabric

Ahmed, Soyed Tuhin ORCID iD icon 1; Mayahinia, Mahta 1; Hefenbrock, Michael 2; Münch, Christopher ORCID iD icon 1; Tahoori, Mehdi B. 1
1 Institut für Technische Informatik (ITEC), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/ETS54262.2022.9810422
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Zitationen: 3
Dimensions
Zitationen: 2
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsdatum 23.05.2022
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-66546-706-3
ISSN: 1530-1877
KITopen-ID: 1000149151
Erschienen in 2022 IEEE European Test Symposium (ETS): 23–27 May 2022, Barcelona, Spain
Veranstaltung IEEE European Test Symposium (ETS 2022), Barcelona, Spanien, 23.05.2022 – 27.05.2022
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Nachgewiesen in Dimensions
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