Process and Runtime Variation Robustness for Spintronic-Based Neuromorphic Fabric
Ahmed, Soyed Tuhin
1; Mayahinia, Mahta 1; Hefenbrock, Michael 2; Münch, Christopher
1; Tahoori, Mehdi B. 1
1 Institut für Technische Informatik (ITEC), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Mayahinia, Mahta 1; Hefenbrock, Michael 2; Münch, Christopher
1; Tahoori, Mehdi B. 11 Institut für Technische Informatik (ITEC), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsdatum | 23.05.2022 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-66546-706-3 ISSN: 1530-1877 KITopen-ID: 1000149151 |
| Erschienen in | 2022 IEEE European Test Symposium (ETS): 23–27 May 2022, Barcelona, Spain |
| Veranstaltung | IEEE European Test Symposium (ETS 2022), Barcelona, Spanien, 23.05.2022 – 27.05.2022 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Nachgewiesen in | Dimensions Scopus |