KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

On the Robustness of Domestic Devices to Decreased Frequency Quality

Geis-Schroer, Johanna ORCID iD icon 1; Tawbe, Ali 1; Suriyah, Michael 1; Leibfried, Thomas 1
1 Institut für Elektroenergiesysteme und Hochspannungstechnik (IEH), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/ENERGYCON53164.2022.9830435
Scopus
Zitationen: 6
Dimensions
Zitationen: 5
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Elektroenergiesysteme und Hochspannungstechnik (IEH)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsdatum 09.05.2022
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-6654-7983-7
KITopen-ID: 1000149733
Erschienen in IEEE 7th International Energy Conference (ENERGYCON), Riga, Latvia, 09-12 May 2022
Veranstaltung 7th IEEE International Energy Conference (ENERGYCON 2022), Riga, Lettland, 09.05.2022 – 12.05.2022
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Nachgewiesen in Scopus
Dimensions
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page