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Untersuchung des Confirmation Bias bei der Fehleranalyse in der Konstruktion und Evaluation einer methodischen Unterstützung = Investigation of confirmation bias in failure analysis in design engineering and evaluation of a support method

Nelius, Thomas ORCID iD icon 1
1 Institut für Produktentwicklung (IPEK), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)

Abstract:

Bei der Problemlösung müssen Konstrukteure die Ursachen von Fehlern und unerwünschtem Systemverhalten auf die Gestalt von Bauteilen zurückführen. Erst dieses Wissen ermöglicht eine zielgerichtete Entwicklung. Untersuchungen in anderen Disziplinen legen nahe, dass die Informationsaufnahme und -verarbeitung bei der Fehleranalyse durch systematische Denkfehler wie den Confirmation Bias beeinflusst wird. Der Confirmation Bias führt dazu, dass Informationen so gesucht und interpretiert werden, dass sie die eigenen Ansichten bestätigen. Bisher ist der Einfluss dieser Denkfehler auf die Fehleranalyse von Konstrukteuren jedoch noch nicht erforscht. ... mehr

Abstract (englisch):

When solving problems, designers must trace the causes of failures and undesirable system behavior back to the design of components. Only this knowledge enables targeted development. Research in other disciplines suggests that this failure analysis is influenced by cognitive biases, such as confirmation bias. Confirmation bias leads to information being searched for and interpreted in such a way that it confirms one's own views. So far, however, the influence of these cognitive biases on the failure analysis of design engineers has not yet been researched. Known methods of failure analysis do not address the aspects recommended to reduce confirmation bias. ... mehr


Volltext §
DOI: 10.5445/IR/1000149778
Veröffentlicht am 16.08.2022
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Produktentwicklung (IPEK)
Publikationstyp Hochschulschrift
Publikationsdatum 16.08.2022
Sprache Deutsch
Identifikator ISSN: 1615-8113
KITopen-ID: 1000149778
Verlag Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
Umfang 212 S.
Serie Forschungsberichte IPEK, Institut für Produktentwicklung am KIT: Systeme, Methoden, Prozesse ; 143
Art der Arbeit Dissertation
Fakultät Fakultät für Maschinenbau (MACH)
Institut Institut für Produktentwicklung (IPEK)
Prüfungsdatum 29.09.2021
Schlagwörter Confirmation Bias, Fehleranalyse, Produktentwicklung, Design Cognition
Referent/Betreuer Matthiesen, Sven
Gericke, Kilian
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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