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Printed Electrodermal Activity Sensor with Optimized Filter for Stress Detection

Zhao, Haibin ORCID iD icon 1,2; Scholz, Alexander ORCID iD icon 3; Beigl, Michael 1,2; Ni, Si 4; Singaraju, Surya A. 3; Aghassi-Hagmann, Jasmin ORCID iD icon 3
1 Institut für Telematik (TM), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Fakultät für Informatik (INFORMATIK), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
3 Institut für Nanotechnologie (INT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
4 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)

Abstract (englisch):

This paper presents a tiny, flexible, and low-cost all-analog approach for measuring electrodermal activity, based on the conductance of the skin. We propose a tiny, fully-printed system on flexible substrates, which guarantees flexibility and simplifies attachment to the body, and allows for detection of high stress values in form of a binary classification. A major contribution of this paper is the design of the printed hardware, including a novel way to optimize the hardware parameters, which is done via an evolutionary algorithm.

Postprint §
DOI: 10.5445/IR/1000150224/post
Veröffentlicht am 12.09.2023
Preprint §
DOI: 10.5445/IR/1000150224
Veröffentlicht am 05.09.2022
DOI: 10.1145/3544794.3558479
Zitationen: 3
Zitationen: 3
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Institut für Telematik (TM)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsdatum 11.09.2022
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-4503-9424-6
KITopen-ID: 1000150224
HGF-Programm 43.31.02 (POF IV, LK 01) Devices and Applications
Erschienen in International Symposium on Wearable Computers (ISWC'22) , Atlanta, GA and Cambridge, UK, September 11-15, 2022
Veranstaltung International Symposium on Wearable Computers (ISWC 2022), Cambridge, Vereinigtes Königreich, 11.09.2022 – 15.09.2022
Verlag Association for Computing Machinery (ACM)
Seiten 112-114
Schlagwörter stress detection, evolutionary algorithm, printed electronics, electrodermal activity, wearable computing
Nachgewiesen in Dimensions
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