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Evaluation of Chip-Package Interaction by Means of Stress Sensors

Sun, Jingyao; Gabani, Dhruvit 1; Silber, Christian; Dietz, Franz; Kabakchiev, Alexander; Gromala, Przemyslaw; Thewes, Roland; Pecanac, Goran
1 Fakultät für Maschinenbau (MACH), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/JSEN.2022.3175576
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Zugehörige Institution(en) am KIT Fakultät für Maschinenbau (MACH)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsdatum 01.07.2022
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1530-437X, 1558-1748, 2379-9153
KITopen-ID: 1000150891
Erschienen in IEEE Sensors Journal
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Band 22
Heft 13
Seiten 12959–12966
Nachgewiesen in Dimensions
Web of Science
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