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A Methodology for classifying Data relevance to utilize external Data Sources in the Digital Twin

Hildebrandt, Gary; Habiger, Pascal; Dittler, Daniel; Barth, Mike ORCID iD icon 1; Drath, Rainer; Weyrich, Michael
1 Institut für Regelungs- und Steuerungssysteme (IRS), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/ETFA52439.2022.9921717
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Zitationen: 3
Dimensions
Zitationen: 4
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Regelungs- und Steuerungssysteme (IRS)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsdatum 08.09.2022
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 1000151134
Erschienen in Proceedings of the 27th IEEE International Conference on Emerging Technologies and Factory Automation, 6th - 9th September 2022, Stuttgart
Veranstaltung 27th IEEE international Conference on Emerging Technologies and Factory Automation (ETFA 2022), Universität Stuttgart, 06.09.2022 – 09.09.2022
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Nachgewiesen in Dimensions
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