Development of X-Ray Diffraction Imaging Techniques for the Quasi in Situ Characterization of Crystal Defects
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Laboratorium für Applikationen der Synchrotronstrahlung (LAS) |
| Publikationstyp | Hochschulschrift |
| Publikationsdatum | 13.10.2022 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 1000151136 |
| Verlag | Karlsruher Institut für Technologie (KIT) |
| Umfang | ix, 207 S. |
| Art der Arbeit | Dissertation |
| Fakultät | Fakultät für Physik (PHYSIK) |
| Institut | Laboratorium für Applikationen der Synchrotronstrahlung (LAS) |
| Prüfungsdatum | 12.11.2021 |
| Referent/Betreuer | Baumbach, Tilo Danilewsky, Andreas |