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Exposure Correction Model to Enhance Image Quality

Eyiokur, F. Irem 1; Yaman, Dogucan 1; Ekenel, Hazim Kemal; Waibel, Alexander 1
1 Institut für Anthropomatik und Robotik (IAR), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/CVPRW56347.2022.00083
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Zitationen: 6
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Zitationen: 7
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Anthropomatik und Robotik (IAR)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsmonat/-jahr 06.2022
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-66548-739-9
ISSN: 2160-7508
KITopen-ID: 1000151302
Erschienen in Proceedings 2022 IEEE/CVF Conference on Computer Vision and Pattern Recognition Workshops (CVPRW): New Orleans, Louisiana, 19–24 June 2022
Veranstaltung IEEE/CVF Conference on Computer Vision and Pattern Recognition Workshops (CVPRW 2022), Online, 19.06.2022 – 24.06.2022
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten 676–686
Nachgewiesen in Dimensions
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