KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

A systematic review of data-driven approaches to fault diagnosis and early warning

Jieyang, Peng 1; Kimmig, Andreas 1; Dongkun, Wang; Niu, Zhibin ; Zhi, Fan; Jiahai, W.; Jiahai, Wang; Liu, Xiufeng
1 Institut für Informationsmanagement im Ingenieurwesen (IMI), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1007/s10845-022-02020-0
Scopus
Zitationen: 28
Dimensions
Zitationen: 33
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Informationsmanagement im Ingenieurwesen (IMI)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2022
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0956-5515, 1572-8145
KITopen-ID: 1000151497
Erschienen in Journal of Intelligent Manufacturing
Verlag Springer
Band 34
Heft 8
Seiten 3277–3304
Vorab online veröffentlicht am 15.09.2022
Nachgewiesen in Dimensions
Web of Science
Scopus
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page