| Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik (ETIT) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2022 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 1546-2218, 1546-2226 KITopen-ID: 1000151603 |
| Erschienen in | CMC-COMPUTERS MATERIALS & CONTINUA |
| Verlag | Tech Science Press |
| Band | 73 |
| Heft | 2 |
| Seiten | 4033–4049 |
| Schlagwörter | Anomaly detection; machine-learning algorithm; process control feature; qualitative and quantitative comparisons |
| Nachgewiesen in | Dimensions OpenAlex Web of Science Scopus |