NeuroScrub+: Mitigating Retention Faults Using Flexible Approximate Scrubbing in Neuromorphic Fabric Based on Resistive Memories
Ahmed, Soyed Tuhin
1; Hefenbrock, Michael 2; Munch, Christopher
1; Tahoori, Mehdi B. 1
1 Institut für Technische Informatik (ITEC), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Institut für Telematik (TM), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Hefenbrock, Michael 2; Munch, Christopher
1; Tahoori, Mehdi B. 11 Institut für Technische Informatik (ITEC), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Institut für Telematik (TM), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) Institut für Telematik (TM) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2023 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0278-0070, 1937-4151 KITopen-ID: 1000151811 |
| Erschienen in | IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Band | 42 |
| Heft | 5 |
| Seiten | 1490-1503 |
| Vorab online veröffentlicht am | 12.09.2022 |
| Nachgewiesen in | Dimensions Web of Science Scopus |