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NeuroScrub+: Mitigating Retention Faults Using Flexible Approximate Scrubbing in Neuromorphic Fabric Based on Resistive Memories

Ahmed, Soyed Tuhin ORCID iD icon 1; Hefenbrock, Michael 2; Munch, Christopher ORCID iD icon 1; Tahoori, Mehdi B. 1
1 Institut für Technische Informatik (ITEC), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Institut für Telematik (TM), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/TCAD.2022.3205872
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Zitationen: 1
Dimensions
Zitationen: 2
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Institut für Telematik (TM)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2023
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0278-0070, 1937-4151
KITopen-ID: 1000151811
Erschienen in IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Band 42
Heft 5
Seiten 1490-1503
Vorab online veröffentlicht am 12.09.2022
Nachgewiesen in Dimensions
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