A model-based approach for early robustness evaluation – Combination of Contact and Channel Approach with tolerance graphs in SysML
Horber, Dennis ; Li, Jiahang 1; Grauberger, Patric
1; Schleich, Benjamin; Matthiesen, Sven 1; Wartzack, Sandro
1 Institut für Produktentwicklung (IPEK), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Schleich, Benjamin; Matthiesen, Sven 1; Wartzack, Sandro1 Institut für Produktentwicklung (IPEK), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Produktentwicklung (IPEK) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2022 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 1000152004 |
| Erschienen in | DS 119: Proceedings of the 33rd Symposium Design for X (DFX2022), 22. - 23.09.2022, Hamburg |
| Veranstaltung | 33rd Symposium Design for X (DFX 2022), Hamburg, Deutschland, 22.09.2022 – 23.09.2022 |
| Verlag | The Design Society |
| Seiten | 10 S. |
| Externe Relationen | Abstract/Volltext |
| Nachgewiesen in | Dimensions Scopus |