A model-based approach for early robustness evaluation – Combination of Contact and Channel Approach with tolerance graphs in SysML

Horber, Dennis ; Li, Jiahang ¹; Grauberger, Patric

¹; Schleich, Benjamin; Matthiesen, Sven ¹; Wartzack, Sandro
¹ Institut für Produktentwicklung (IPEK), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)

Postprint

DOI: 10.5445/IR/1000152004

Veröffentlicht am 01.01.2024

Originalveröffentlichung
DOI: 10.35199/dfx2022.18

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Produktentwicklung (IPEK)
Publikationstyp	Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr	2022
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 1000152004
Erschienen in	DS 119: Proceedings of the 33rd Symposium Design for X (DFX2022), 22. - 23.09.2022, Hamburg
Veranstaltung	33rd Symposium Design for X (DFX 2022), Hamburg, Deutschland, 22.09.2022 – 23.09.2022
Verlag	The Design Society
Seiten	10 S.
Externe Relationen	Abstract/Volltext
Nachgewiesen in	Dimensions Scopus