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Characterization Measurements of Sapphire and Diamond based KIDs for Polarimetric Plasma Diagnostics

Mazzocchi, F. ORCID iD icon 1; Ilin, K. 2; Kempf, S. 2; Kuzmin, A. ORCID iD icon 2; Straus, D. 1; Scherer, T. 1
1 Institut für Angewandte Materialien – Angewandte Werkstoffphysik (IAM-AWP), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Postprint §
DOI: 10.5445/IR/1000152043
Veröffentlicht am 03.01.2023
Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/IRMMW-THz50927.2022.9895947
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien – Angewandte Werkstoffphysik (IAM-AWP)
Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2022
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-72819-427-1
ISSN: 2162-2027
KITopen-ID: 1000152043
HGF-Programm 31.13.06 (POF IV, LK 01) Plant Engineering
Erschienen in 2022 47th International Conference on Infrared, Millimeter and Terahertz Waves (IRMMW-THz)
Veranstaltung 47th International Conference on Infrared, Millimeter and Terahertz Waves (IRMMW-THz 2022), Delft, Niederlande, 28.08.2022 – 02.09.2022
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten 2 S.
Serie International Conference on Infrared and Millimeter Waves (IRMMW-THz)
Vorab online veröffentlicht am 26.09.2022
Nachgewiesen in Dimensions
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