Characterization Measurements of Sapphire and Diamond based KIDs for Polarimetric Plasma Diagnostics
Mazzocchi, F.
1; Ilin, K. 2; Kempf, S. 2; Kuzmin, A.
2; Straus, D. 1; Scherer, T. 1
1 Institut für Angewandte Materialien – Angewandte Werkstoffphysik (IAM-AWP), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Ilin, K. 2; Kempf, S. 2; Kuzmin, A.
2; Straus, D. 1; Scherer, T. 11 Institut für Angewandte Materialien – Angewandte Werkstoffphysik (IAM-AWP), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Materialien – Angewandte Werkstoffphysik (IAM-AWP) Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2022 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-72819-427-1 ISSN: 2162-2027 KITopen-ID: 1000152043 |
| HGF-Programm | 31.13.06 (POF IV, LK 01) Plant Engineering |
| Erschienen in | 2022 47th International Conference on Infrared, Millimeter and Terahertz Waves (IRMMW-THz) |
| Veranstaltung | 47th International Conference on Infrared, Millimeter and Terahertz Waves (IRMMW-THz 2022), Delft, Niederlande, 28.08.2022 – 02.09.2022 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | 2 S. |
| Serie | International Conference on Infrared and Millimeter Waves (IRMMW-THz) |
| Vorab online veröffentlicht am | 26.09.2022 |
| Nachgewiesen in | Scopus Dimensions |