A Correlative Analysis Flow for Electrical and Structural Characterization of IGZO Transistors
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Lichttechnisches Institut (LTI) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2022 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-66549-815-9 ISSN: 1946-1550 KITopen-ID: 1000152535 |
| Erschienen in | Conference Proceedings: 2022 IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA) |
| Veranstaltung | 29th IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (2022), Singapur, Singapur, 18.07.2022 – 21.07.2022 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | 1–4 |
| Serie | Proceedings of the 2022 IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA) |
| Vorab online veröffentlicht am | 17.10.2022 |
| Nachgewiesen in | Scopus OpenAlex Dimensions |