Single part tracking enabled by fluorescent Polysecure tracing particles in AM parts
Gartner, Patrizia 1; Krischke, Nikolai
; Benfer, Martin; Bender, Matthias; Lanza, Gisela; Fleischer, Jürgen; Dost, Georg; Bourell, David L. [Hrsg.]
1 Institut für Produktionstechnik (WBK), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
; Benfer, Martin; Bender, Matthias; Lanza, Gisela; Fleischer, Jürgen; Dost, Georg; Bourell, David L. [Hrsg.]1 Institut für Produktionstechnik (WBK), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Produktionstechnik (WBK) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsmonat/-jahr | 11.2022 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 1000152858 |
| Erschienen in | Solid Freeform Fabrication Symposium – An Additive Manufacturing Conference Hrsg.: Bourell, David L. |
| Veranstaltung | 33rd Annual International Solid Freeform Fabrication Symposium An Additive Manufacturing Conference (2022), Austin, Texas, USA, 25.07.2022 – 27.07.2022 |
| Verlag | Solid Freeform Fabrication Symposium – An Additive Manufacturing Conference |
| Seiten | 1998-2010 |
| Serie | 33 |