Precisely Picking Nanoparticles by a “Nano-Scalpel” for 360° Electron Tomography
Huang, Xiaohui 1; Tang, Yushu
1; Kübel, Christian
1,2; Wang, Di
1,2
1 Institut für Nanotechnologie (INT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Karlsruhe Nano Micro Facility (KNMF), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Kübel, Christian
1,2; Wang, Di
1,21 Institut für Nanotechnologie (INT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Karlsruhe Nano Micro Facility (KNMF), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Nanotechnologie (INT) Karlsruhe Nano Micro Facility (KNMF) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsmonat/-jahr | 12.2022 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 1431-9276, 1435-8115 KITopen-ID: 1000152859 |
| HGF-Programm | 43.35.01 (POF IV, LK 01) Platform for Correlative, In Situ & Operando Charakterizat. |
| Weitere HGF-Programme | 43.35.03 (POF IV, LK 01) Structural and Functional Behavior of Solid State Systems |
| Erschienen in | Microscopy and Microanalysis |
| Verlag | Cambridge University Press (CUP) |
| Band | 28 |
| Heft | 6 |
| Seiten | 1981–1988 |
| Vorab online veröffentlicht am | 14.09.2022 |
| Externe Relationen | Abstract/Volltext |
| Schlagwörter | 2021-027-030670 FIB TEM |
| Nachgewiesen in | OpenAlex Scopus Dimensions Web of Science |