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Precisely Picking Nanoparticles by a “Nano-Scalpel” for 360° Electron Tomography

Huang, Xiaohui 1; Tang, Yushu ORCID iD icon 1; Kübel, Christian ORCID iD icon 1,2; Wang, Di ORCID iD icon 1,2
1 Institut für Nanotechnologie (INT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Karlsruhe Nano Micro Facility (KNMF), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1017/S1431927622012247
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Zitationen: 2
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Karlsruhe Nano Micro Facility (KNMF)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 12.2022
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1431-9276, 1435-8115
KITopen-ID: 1000152859
HGF-Programm 43.35.01 (POF IV, LK 01) Platform for Correlative, In Situ & Operando Charakterizat.
Weitere HGF-Programme 43.35.03 (POF IV, LK 01) Structural and Functional Behavior of Solid State Systems
Erschienen in Microscopy and Microanalysis
Verlag Cambridge University Press (CUP)
Band 28
Heft 6
Seiten 1981–1988
Vorab online veröffentlicht am 14.09.2022
Externe Relationen Abstract/Volltext
Schlagwörter 2021-027-030670 FIB TEM
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