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Development of an adaptive quality control loop in micro-production using machine learning, analytical gear simulation, and inline focus variation metrology for zero defect manufacturing

Gauder, Daniel 1; Gölz, Johannes 1; Jung, Niels 1; Lanza, Gisela 1
1 Institut für Produktionstechnik (WBK), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1016/j.compind.2022.103799
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Zitationen: 11
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Zitationen: 14
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Produktionstechnik (WBK)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2023
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0166-3615, 1872-6194
KITopen-ID: 1000153009
Erschienen in Computers in Industry
Verlag Elsevier
Band 144
Seiten Art.-Nr.: 103799
Vorab online veröffentlicht am 09.11.2022
Nachgewiesen in Scopus
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