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Multi-Model Machine Learning based Industrial Vision Framework for Assembly Part Quality Control

Schwab, Maximilian; Madeline-Derou, Charles; Klarmann, Steffen; Thielen, Nils; Meier, Sven; Franke, Jörg; Chintanippu, Sandan; Stork, Wilhelm 1
1 Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/ETFA52439.2022.9921587
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Zitationen: 4
Dimensions
Zitationen: 3
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2022
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-66549-996-5
ISSN: 1946-0740
KITopen-ID: 1000153168
Erschienen in 2022 IEEE 27th International Conference on Emerging Technologies and Factory Automation (ETFA)
Veranstaltung 27th IEEE International Conference on Emerging Technologies and Factory Automation (ETFA 2022), Stuttgart, Deutschland, 06.09.2022 – 09.09.2022
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten 1–4
Serie Proceedings of IEEE International Conference on Emerging Technologies & Factory Automation
Vorab online veröffentlicht am 25.10.2022
Nachgewiesen in Dimensions
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