KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Exploring the influence of FIB processing and SEM imaging on solid-state electrolytes

Ding, Ziming ORCID iD icon; Tang, Yushu ORCID iD icon 1; Chakravadhanula, Venkata Sai Kiran; Ma, Qianli; Tietz, Frank; Dai, Yuting; Scherer, Torsten; Kübel, Christian ORCID iD icon 1
1 Institut für Nanotechnologie (INT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Verlagsausgabe §
DOI: 10.5445/IR/1000153205/pub
Veröffentlicht am 23.02.2023
Postprint §
DOI: 10.5445/IR/1000153205
Veröffentlicht am 22.11.2023
Originalveröffentlichung
DOI: 10.1093/jmicro/dfac064
Scopus
Zitationen: 5
Web of Science
Zitationen: 4
Dimensions
Zitationen: 6
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Center for Electrochemical Energy Storage Ulm & Karlsruhe (CELEST)
Helmholtz-Institut Ulm (HIU)
Institut für Nanotechnologie (INT)
Karlsruhe Nano Micro Facility (KNMF)
Post Lithium Storage (POLiS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 08.2023
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 2050-5698, 2050-5701
KITopen-ID: 1000153205
HGF-Programm 43.35.01 (POF IV, LK 01) Platform for Correlative, In Situ & Operando Charakterizat.
Weitere HGF-Programme 38.02.01 (POF IV, LK 01) Fundamentals and Materials
43.35.03 (POF IV, LK 01) Structural and Functional Behavior of Solid State Systems
Erschienen in Microscopy
Verlag Oxford University Press (OUP)
Band 72
Heft 4
Seiten 326–335
Vorab online veröffentlicht am 21.11.2022
Schlagwörter 2022-029-031463 FIB TEM
Nachgewiesen in Dimensions
Web of Science
Scopus
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page