A failure analysis framework of ReRAM In-Memory Logic operations
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2022 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-66545-523-7 ISSN: 2768-069X KITopen-ID: 1000153920 |
| Erschienen in | 2022 IEEE International Test Conference in Asia (ITC-Asia) |
| Veranstaltung | IEEE International Test Conference in Asia (ITC-Asia 2022), Taipeh, Taiwan, 24.08.2022 – 26.08.2022 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | 67–72 |
| Serie | International Test Conference in Asia |
| Vorab online veröffentlicht am | 15.11.2022 |
| Nachgewiesen in | Dimensions Scopus |