Test-driven Development to Overcome Challenges in the Design of Sensor-integrating Machine Elements

Peters, Julian; Zimmerer, Christoph; Gwosch, Thomas; Herbst, Felix; Hartmann, Claas; Chadda, Romol; Riehl, David; Keil, Ferdinand; Kupnik, Mario; Hofmann, Klaus; Matthiesen, Sven

doi:10.35199/dfx2022.12

Test-driven Development to Overcome Challenges in the Design of Sensor-integrating Machine Elements

Peters, Julian ¹; Zimmerer, Christoph ¹; Gwosch, Thomas ¹; Herbst, Felix; Hartmann, Claas; Chadda, Romol; Riehl, David; Keil, Ferdinand; Kupnik, Mario; Hofmann, Klaus; Matthiesen, Sven ¹
¹ Institut für Produktentwicklung (IPEK), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)

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DOI: 10.35199/dfx2022.12

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Produktentwicklung (IPEK)
Publikationstyp	Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr	2022
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 1000153921
Erschienen in	DS 119: Proceedings of the 33rd Symposium Design for X (DFX2022)
Veranstaltung	33rd Symposium Design for X (DFX 2022), Hamburg, Deutschland, 22.09.2022 – 23.09.2022
Verlag	The Design Society
Seiten	10 S.
Nachgewiesen in	Scopus Dimensions

Repository KITopen

Test-driven Development to Overcome Challenges in the Design of Sensor-integrating Machine Elements