Test-driven Development to Overcome Challenges in the Design of Sensor-integrating Machine Elements
Peters, Julian
1; Zimmerer, Christoph 1; Gwosch, Thomas 1; Herbst, Felix; Hartmann, Claas; Chadda, Romol; Riehl, David; Keil, Ferdinand; Kupnik, Mario; Hofmann, Klaus; Matthiesen, Sven 1
1 Institut für Produktentwicklung (IPEK), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Zimmerer, Christoph 1; Gwosch, Thomas 1; Herbst, Felix; Hartmann, Claas; Chadda, Romol; Riehl, David; Keil, Ferdinand; Kupnik, Mario; Hofmann, Klaus; Matthiesen, Sven 11 Institut für Produktentwicklung (IPEK), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Produktentwicklung (IPEK) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2022 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 1000153921 |
| Erschienen in | DS 119: Proceedings of the 33rd Symposium Design for X (DFX2022) |
| Veranstaltung | 33rd Symposium Design for X (DFX 2022), Hamburg, Deutschland, 22.09.2022 – 23.09.2022 |
| Verlag | The Design Society |
| Seiten | 10 S. |
| Nachgewiesen in | Dimensions Scopus |