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Test-driven Development to Overcome Challenges in the Design of Sensor-integrating Machine Elements

Peters, Julian ORCID iD icon 1; Zimmerer, Christoph 1; Gwosch, Thomas 1; Herbst, Felix; Hartmann, Claas; Chadda, Romol; Riehl, David; Keil, Ferdinand; Kupnik, Mario; Hofmann, Klaus; Matthiesen, Sven 1
1 Institut für Produktentwicklung (IPEK), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


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Originalveröffentlichung
DOI: 10.35199/dfx2022.12
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Zitationen: 1
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Zitationen: 1
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Produktentwicklung (IPEK)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2022
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 1000153921
Erschienen in DS 119: Proceedings of the 33rd Symposium Design for X (DFX2022)
Veranstaltung 33rd Symposium Design for X (DFX 2022), Hamburg, Deutschland, 22.09.2022 – 23.09.2022
Verlag The Design Society
Seiten 10 S.
Nachgewiesen in Scopus
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