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Validation of Fault-Tolerant Control of Converters under Open-Switch Faults on Connected Test Benches

Pecha, Urs; Parspour, Nejila; Wolter, Kai 1; Waschle, Moritz ORCID iD icon 1; Bause, Katharina 1
1 Institut für Produktentwicklung (IPEK), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Produktentwicklung (IPEK)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2022
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-66548-025-3
ISSN: 2577-1647
KITopen-ID: 1000154325
Erschienen in IECON 2022 – 48th Annual Conference of the IEEE Industrial Electronics Society
Veranstaltung 48th Annual Conference of the IEEE Industrial Electronics Society (IECON 2022), Brüssel, Belgien, 17.10.2022 – 20.10.2022
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten 1–6
Serie Proceedings of the Annual Conference of the IEEE Industrial Electronics Society
Vorab online veröffentlicht am 09.12.2022
Nachgewiesen in Dimensions
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