Full-Field Nanoscale X-ray Diffraction-Contrast Imaging using Direct Detection
Kisiel, Elliot; Poudyal, Ishwor; Kenesei, Peter; Engbretson, Mark; Last, Arndt
1; Basak, Rourav; Zaluzhnyy, Ivan; Goteti, Uday; Dynes, Robert; Miceli, Antonino; Frano, Alex; Islam, Zahir
1 Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Basak, Rourav; Zaluzhnyy, Ivan; Goteti, Uday; Dynes, Robert; Miceli, Antonino; Frano, Alex; Islam, Zahir1 Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT) |
| Publikationstyp | Forschungsbericht/Preprint |
| Publikationsjahr | 2022 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 1000154599 |
| HGF-Programm | 43.35.01 (POF IV, LK 01) Platform for Correlative, In Situ & Operando Charakterizat. |
| Verlag | arxiv |
| Umfang | 8 S. |
| Externe Relationen | Siehe auch |
| Schlagwörter | Proposal-Nr.: 2020-024 029389, Technologien: EBL, XRL |
| Nachgewiesen in | arXiv OpenAlex Dimensions |