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Full-Field Nanoscale X-ray Diffraction-Contrast Imaging using Direct Detection

Kisiel, Elliot; Poudyal, Ishwor; Kenesei, Peter; Engbretson, Mark; Last, Arndt 1; Basak, Rourav; Zaluzhnyy, Ivan; Goteti, Uday; Dynes, Robert; Miceli, Antonino; Frano, Alex; Islam, Zahir
1 Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp Forschungsbericht/Preprint
Publikationsjahr 2022
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 1000154599
HGF-Programm 43.35.01 (POF IV, LK 01) Platform for Correlative, In Situ & Operando Charakterizat.
Verlag arxiv
Umfang 8 S.
Externe Relationen Siehe auch
Schlagwörter Proposal-Nr.: 2020-024 029389, Technologien: EBL, XRL
Nachgewiesen in arXiv
Dimensions
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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