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Electric torsion effect in a ferroelectric nanodot

Xie, Qian; Yuan, Shuai; Ji, Ye 1; Feng, Shilong; Liu, Yulan ; Wang, Biao
1 Institut für Angewandte Materialien – Mikrostruktur-Modellierung und Simulation (IAM-MMS), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1063/5.0126895
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Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien – Mikrostruktur-Modellierung und Simulation (IAM-MMS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsdatum 05.12.2022
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0003-6951, 1077-3118
KITopen-ID: 1000154843
HGF-Programm 43.31.01 (POF IV, LK 01) Multifunctionality Molecular Design & Material Architecture
Erschienen in Applied Physics Letters
Verlag American Institute of Physics (AIP)
Band 121
Heft 23
Seiten Art.-Nr.: 232903
Nachgewiesen in Web of Science
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