KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Analyzing the Electromigration Challenges of Computation in Resistive Memories

Mayahinia, Mahta 1; Tahoori, Mehdi 1; Perumkunnil, Manu 2; Croes, Kristof; Catthoor, Francky
1 Institut für Technische Informatik (ITEC), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Download
Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/ITC50671.2022.00067
Scopus
Zitationen: 1
Dimensions
Zitationen: 1
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2022
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-66546-270-9
ISSN: 2378-2250
KITopen-ID: 1000155241
Erschienen in 2022 IEEE International Test Conference (ITC)
Veranstaltung IEEE International Test Conference (ITC 2022), Anaheim, CA, USA, 23.09.2022 – 30.09.2022
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten 534–538
Serie Proceedings - International Test Conference
Vorab online veröffentlicht am 26.12.2022
Nachgewiesen in Scopus
Dimensions
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page