Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
Publikationsjahr | 2022 |
Sprache | Englisch |
Identifikator | ISBN: 978-1-66546-270-9 ISSN: 2378-2250 KITopen-ID: 1000155242 |
Erschienen in | 2022 IEEE International Test Conference (ITC) |
Veranstaltung | IEEE International Test Conference (ITC 2022), Anaheim, CA, USA, 23.09.2022 – 30.09.2022 |
Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
Seiten | 239–248 |
Serie | Proceedings - International Test Conference |
Vorab online veröffentlicht am | 26.12.2022 |
Nachgewiesen in | Dimensions Scopus |