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Compact Functional Test Generation for Memristive Deep Learning Implementations using Approximate Gradient Ranking

Ahmed, Soyed Tuhin ORCID iD icon 1; Tahoori, Mehdi B. 1
1 Institut für Technische Informatik (ITEC), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/ITC50671.2022.00032
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Zitationen: 6
Dimensions
Zitationen: 5
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2022
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-66546-270-9
ISSN: 2378-2250
KITopen-ID: 1000155242
Erschienen in 2022 IEEE International Test Conference (ITC)
Veranstaltung IEEE International Test Conference (ITC 2022), Anaheim, CA, USA, 23.09.2022 – 30.09.2022
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten 239–248
Serie Proceedings - International Test Conference
Vorab online veröffentlicht am 26.12.2022
Nachgewiesen in Dimensions
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